5月11日，应中国科学院沈阳自动化研究所工业控制网络与系统研究室徐皑冬研究员和王锴副研究员邀请，中科院国际杰出学者、美国马里兰大学首席教授Michael Pecht来所访问，并作了题为Advances in the Qualification of Electronics Products的学术报告。 

　　Michael Pecht首先以实际案例生动地讲解了可靠性测试的基本概念，并指出了目前可靠性测试方法所存在的缺陷。随后，他从工程科学家的角度讲述了如何利用基于物理失效模型的方法实现复杂机电系统/产品的现场寿命预测，进而有效提高产品可靠性与预计结果准确性，为最终实现产品的预测性维护奠定理论基础。最后，Michael Pecht回答了现场提问，并和与会人员进行了热烈的交流与探讨。 

　　来访期间，Michael Pecht与沈阳自动化所所长于海斌、人事教育处处长周船就国家机器人检测与评定中心建设、海外人才引进等内容进行了深入交流，为今后进一步合作达成了一致意见。 

    Michael Pecht现任美国马里兰大学机械工程系首席教授、马里兰大学应用数学系首席教授，是美国马里兰大学先进寿命周期工程中心（CALCE）的创始人与负责人，该中心得到了全球150多家知名公司的资助，每年获得的资助超过600万美元。Michael Pecht是美国科学/工程院（National Academy of Science / Engineering, NAE / NAS）可靠性委员会成员、美国国会调查委员会专家（负责能源 & 商业领域）、美国食品与药品监督管理局（FDA）专家，美国电气电子工程师学会院士(IEEE Fellow）、美国机械工程师学会院士 （ASME Fellow）、国际微电子与封装协会院士（IMAPS Fellow和美国汽车工程师学会院士（SAE Fellow）。鉴于他在可靠性研究领域的卓越贡献，2007年被授予了可靠性研究和应用领域的最高荣誉——IEEE可靠性分会终身成就奖。此外，他还获得过欧洲微纳米可靠性大奖以及电子封装领域的3M研究奖等诸多国际奖项。他曾担任IEEE Transactions on Reliability刊物主编八年，同时在IEEE Spectrum杂志的顾问委员会任职。目前他是Microelectronics Reliability杂志的主编以及IEEE Transactions On Components and Packaging Technology杂志的副主编。他出版过20多本关于电子产品开发、使用及供应链管理的著作，发表700多篇学术论文。主持或参与200多个政府与工业界的研究项目，并担任22家大型国际电子产品公司的技术顾问，咨询服务内容涉及电子产品及系统的策略规划、设计、测试和寿命预测、知识产权及风险评估，其研究成果多次获得美国有线电视新闻网（CNN）等国际媒体报道。（工业控制网络与系统研究室）